3D皮膚分析システムは、皮膚を視覚画像ではなく、測定可能な表面として扱うことで皮膚の線ネットワークを再構築します。各点を空間座標 (x, y, z) に対応付け、局所的な山と谷のパターンを特定し、周囲の隆起部とくぼみの標高差からしわの深さを算出します。さらに、表面勾配、局所法線、波長、方向、深さを組み合わせ、皮膚を定量的に表現する3次元記述を作成します。
中心となる原理は表面幾何学です。しわを高さ場における構造化されたくぼみとしてモデル化し、その深さ、間隔、方向によって分類します。これにより、目視検査では得られない客観的な測定と統計的な比較が可能になります。
皮膚表面が幾何学モデルになる仕組み
表面を座標にマッピングする
3Dスキャナーは定められた領域全体で皮膚をサンプリングし、すべての測定点に空間座標系上の位置を割り当てます。
xとyは皮膚上の位置を表します。zは基準平面に対する表面の高さまたは深さを表します。
得られるデータセットは高さ場または点群です。しわが視覚的に目立つかどうかを記録する代わりに、システムは各位置で表面がどのように上昇し、下降するかを記録します。
基準平面を設定する
顔は曲面であり自然に傾いているため、測定には標準化されたゼロ平面または基準面が必要です。局所的な隆起とくぼみは、この基準面を基準として算出されます。
これにより、頬、まぶた、または鼻唇溝領域全体の輪郭と、実際のしわによるくぼみを区別できます。
局所的な線のパターンを特定する
基本的な局所しわパターンは、低いくぼみを挟んだ2つの隆起領域として表現できます。
- 線の片側にある最初のピーク。
- 線のくぼみにある谷またはくぼみ。
- 反対側にある2番目のピーク。
このピーク・谷・ピーク構造が、線ネットワークを再構築するための幾何学的基盤となります。システムは、方向、位置、深さの特性が十分に一致する場合、隣接するパターンを連結できます。
しわの深さを算出する方法
ピークからくぼみまでの高さを測定する
しわの深さは、周囲のピークの高さとくぼみの高さの差から求められます。簡略化すると、次のようになります。
深さ = ピークの高さ - くぼみの高さ
しわの両側を考慮する場合、システムは関連するピークからくぼみまでの差の最大値を使用できます。これにより、線の見かけ上の暗さや幅に頼るのではなく、局所的なくぼみの最も深い部分を捉えられます。
高さと深さを区別する
しわは、いくつかの関連する測定値によって表現できます。
- 最大しわ高さ(
Rt)は、測定プロファイルにおける最大の垂直偏差を表します。 - 平均最大しわ高さ(
Rz)は、代表的なピーク・谷の挙動を要約します。 - 平均粗さ(
Ra)は、基準レベルからの絶対偏差の平均を表します。
これらの指標は関連していますが、互換的に扱うことはできません。Raは表面全体の不規則性を表す一方、ピーク・谷の測定値は、顕著なしわの形状とより直接的に関連します。
しわ全体を測定する
しわは最も深い一点だけで定義されるものではありません。3Dシステムでは、次の項目も測定できます。
- 深さ
- 長さまたは周長
- 表面積
- 体積
- 方向
- 間隔または波長
これらの測定を組み合わせることで、施術によってしわの最も深い部分だけが変化したのか、それともより広範な3次元構造が変化したのかを評価できます。
方向と線ネットワークを再構築する方法
表面勾配を利用する
表面勾配は、さまざまな方向における高さの変化速度を表します。しわの方向は、表面上で局所的な変化が最も大きい方向から推定できます。
これは、皮膚の線が必ずしも直線状または均一な方向を向いているわけではないため重要です。勾配に基づく分析により、システムはサンプリング領域全体にわたる曲線状または分岐した構造を追跡できます。
パターンを局所表面法線と関連付ける
表面法線とは、特定の点における皮膚表面に垂直なベクトルです。法線は、周囲の表面点または局所的に近似した平面から算出され、各位置における皮膚の向きに関する情報を提供します。
ピークとくぼみの座標を使用して方向ベクトルを構築でき、ベクトル演算によって、それらのベクトルと局所的な表面形状との関係を比較できます。ただし、ピークベクトルとくぼみベクトルの外積だけでは、表面法線との整列が独立して保証されるわけではありません。法線は、局所表面または周囲の接ベクトルから導出する必要があります。
各線要素をパラメータ化する
各局所パターンは、次のような幾何学パラメータの組み合わせで表現できます。
- 深さ:くぼみが隣接するピークよりどれだけ下にあるか。
- 波長または間隔:繰り返し現れるピーク、谷、または平行線の間の距離。
- 方向:表面に対する局所的な線の向き。
- 位置:スキャン領域内のどこにパターンが存在するか。
互換性のあるパラメータを持つパターンを連結することで、孤立した測定値の集合ではなく、再構築された皮膚線ネットワークが生成されます。
光学トポメトリーによる形状の取得方法
フリンジ投影を利用する
多くの非接触型3Dシステムでは、フリンジ投影が使用されます。構造化された光のパターンを皮膚に投影し、カメラで曲面上のパターンがどのように変形するかを観察します。
この変形には深さの情報が含まれています。コンピュータによる再構築により、その情報は、皮膚に物理的に接触することなく、高密度な3D表面マップへ変換されます。
ミクロンレベルの解像度でサンプリングする
2 cm × 2 cmの領域など、定められた範囲には、機器の解像度に応じて数千から数十万の深さサンプルを含めることができます。高密度のサンプリングにより、微細なくぼみ、狭い線、施術後の小さな変化を捉える能力が向上します。
測定結果を意味のあるものにするには、施術前後で同じ領域、方向、照明条件、取得プロトコルを使用する必要があります。
体積表現を生成する
高さ場が再構築されると、基準面に対するくぼみ領域の体積を算出できます。これにより、単一断面の深さ測定よりも、しわの重症度を包括的に表現できます。
深いものの狭いしわと、浅いものの広いくぼみは、見た目の目立ちやすさが似ていても、測定される体積や面積が異なる場合があります。
深さ分布によって皮膚の質感を定量化する方法
深さの範囲を分類する
深さの頻度分布(FDD)は、表面上の点を深さのカテゴリーに分類します。分類例の1つは次のとおりです。
- 微細構造:
0–50 µm - 細かい構造:
55–170 µm - 粗い、または深い構造:
170 µm超
正確なしきい値はプロトコルによって異なり、普遍的な生物学的境界ではなく、標準化された分析カテゴリーとして扱う必要があります。
施術前後の分布を比較する
皮膚をなめらかにする施術では、深さと頻度の曲線が変化するはずです。一般的な根拠には、次のようなものがあります。
- 粗い、または深い構造の割合が低下する。
- 微細構造および細かい構造の測定値の割合が増加する。
- 分布のピークが移動する。
- 分布の幅が狭くなり、表面の質感がより均一になる。
この方法では、見た目に都合のよいしわだけを選ぶのではなく、測定領域全体を評価します。
局所的な改善と全体的な改善を分けて考える
1つの深さの値は、周囲の粗さが変わらないまま、1本のしわだけが浅くなったことによって改善する場合があります。FDDと粗さの指標は、表面構造全体が変化したかどうかをより広い視点から評価できます。
この区別は、リサーフェシング、マイクロニードリング、高周波施術、または外用スキンケアを評価する際に重要です。
トレードオフを理解する
解像度が高くても測定の不確かさはなくならない
空間解像度を高めると、より細かな特徴を捉えられますが、動き、表情、皮膚の反射率、カメラのキャリブレーション、スキャン間の不完全な位置合わせによる誤差がなくなるわけではありません。
ミクロンレベルで報告された差が信頼できるのは、それがシステムの再現性およびプロトコルに関連する変動を上回る場合に限られます。
基準面の選択は深さの値に影響する
基準面の近似が不適切だと、自然に湾曲した表面が人為的に粗く見えたり、実際のくぼみが抑えられたりする可能性があります。そのため、基準面の構築は、測定対象となる解剖学的領域に適した方法で一貫して行う必要があります。
深さのカテゴリーは普遍的な定義ではない
0–50 µmや170 µm超などのFDDのしきい値は、検証済みの測定プロトコル内では有用です。ただし、あらゆる種類のしわや皮膚線に対する普遍的な臨床定義を示すものと考えてはいけません。
幾何学的形状は生物学的原因と同じではない
3Dスキャンが測定するのは表面形状です。それだけで、そのくぼみがコラーゲンの減少、筋肉の反復運動、脱水、瘢痕、組織の弛緩、またはその他の生物学的プロセスによって生じたかどうかを判断することはできません。
幾何学的測定は、臨床評価および管理された施術プロトコルと併せて解釈することで、最も有効になります。
見た目と測定された深さは一致しないことがある
照明、色素沈着、影、メイクアップ、コントラストによって、浅い線が目立って見えることがあります。反対に、深くても滑らかなくぼみは、視覚的には目立ちにくい場合があります。
3D測定によってこの曖昧さは軽減されますが、正確なデータ取得、キャリブレーション、解剖学的位置合わせに依存することに変わりはありません。
目的に合った選択をする
最も有用なシステムとは、必要な意思決定に適合した幾何学的測定を提供するシステムです。
- 主な関心がしわの深さである場合:一貫して位置合わせした領域から、キャリブレーション済みのピークからくぼみまでの測定値、最大深度、断面プロファイルを使用します。
- 主な関心が皮膚全体の質感である場合:定められた領域全体における
Ra、FDD、微細構造・細かい構造・粗い構造の点の割合を使用します。 - 主な関心が線ネットワークの再構築である場合:勾配に基づく方向、局所表面法線、パターン間隔、深さを使用して、互換性のあるピーク・谷要素を連結します。
- 主な関心が施術効果である場合:同一の取得条件のもとで、施術前後の深さ分布、粗さ、面積、体積を比較します。
重要なポイントは、3D皮膚分析によって、しわが主観的な視覚印象から測定可能な表面幾何学へと変換されることです。
まとめ表:
| 原理 | 用途 | 主要な指標 |
|---|---|---|
| 高さ場マッピング | 皮膚表面を (x, y, z) 座標に変換する | 高さ(z) |
| 基準面 | 曲面状の皮膚を標準化し、相対的な深さを測定する | 正規化された深さ |
| ピーク・谷・ピークパターン | 隆起領域の間にあるくぼみとしてしわを特定する | 深さ、波長 |
| 表面勾配 | しわの方向を判定し、線ネットワークを追跡する | 方向、間隔 |
| 局所法線 | 表面形状の向きを示す | 表面法線ベクトル |
| フリンジ投影 | 構造化光によって非接触で3Dデータを取得する | 高密度点群 |
| 深さ分布(FDD) | 深さを微細構造、細かい構造、粗い構造に分類する | 各範囲の割合 |
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